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天边泛白时，陈恒在 1962 年的日志续页上写下：“19 次失败 = 1962 年 1 次教训的 19 倍”。工作台旁的 19 只废晶体管被按故障类型排列，形成的图案与 1962 年真空管故障分布图惊人相似，其中第 7 只的管壳裂痕角度 37 度，恰好指向手册上的 “机械应力失效” 条款 —— 仿佛 1962 年的技术灵魂，正在指引这场跨越四年的测试。
一、测试准备的历史锚点：1962 年的技术储备
1966 年 4 月的测试方案，严格遵循 1962 年《晶体管加密设备研制规划》第 19 页的阶段划分：先完成 19 项单项测试，再进行 37 项系统联调，每项测试的环境参数都复刻 1962 年的核爆电磁环境。陈恒选用的 1962 年库存晶体管，经 1966 年复测，反向击穿电压仍保持 37V，比 1966 年新品的 36.5V 更接近设计要求，这是 1962 年 “核级元件冗余设计” 的直接体现。
赵工整理的 1962 年故障树分析报告第 37 页，列出 19 种可能导致加密失败的原因，1966 年的 19 次失败恰好覆盖其中 11 种，尤其是 “基极电阻温漂” 和 “发射极虚焊” 两项，与 1962 年的预测完全吻合。我方技术员小张的元件匹配测试显示，1962 年库存电阻与晶体管的参数匹配度仅 37%，这是导致失败的核心原因，但这个数据在 1962 年的兼容性报告中已被预警，只是当时未及优化。
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